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国产便携式四探针测试仪(0.01~1999.9Ω.cm)(SKU:00237399)
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厂家/供应商:Petool
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尚尤提供此款便携式四探针测试仪;
该仪器为多用途综合测量设备,运用四探针测量原理,按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的,专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
采用了最新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。
广泛应用于太阳能单晶(多晶)生产厂家为硅材料的分选测试,半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。


技术参数:


  产品名称   介绍   单位   价格
 国产便携式四探针测试仪(0.01~1999.9Ω.cm)
 SKU:00237399.1
  便携式四探针测试仪;技术指标:测量范围:电阻率:0.01~1999.9Ω.cm;方块电阻:0.1~19999Ω/□;恒流源:电流量程分为100μA、1mA两档,各档电流连续可调;数字电压表:量程及表示形式:000.00~199.99mV;分辨力:10μV;输入阻抗:>1000MΩ;精度:±0.1%;显示:四位半红色发光管数字显示;极性、超量程自动显示;四探针探头基本指标:间距:1±0.01mm;针间绝缘电阻:≥1000MΩ;机械游移率:≤0.3%;探针:碳化钨或高速钢Ф0.5mm;探针压力:5~16 牛顿(总力);四探针探头应用参数(见探头附带的合格证);模拟电阻测量相对误差(按JJG508-87进行):1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字;整机测量最大相对误差(用硅标样片:0.01-180Ω.cm测试):≤±5%;整机测量标准不确定度:≤5%;外型尺寸:125mm(宽)*145mm(高)*245mm(深);标准使用环境:温度:23±2℃;相对湿度:≤65%;无高频干扰;无强光直射;产地:中国   1个   询价


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